scanchain的基本原理是將設計中所有的觸發器連接成一條鏈，用統一的scan clk驅動，這樣可以使用預先設計好的scan pattern用逐bit移入的方法送入芯片中，然后開啟capture使能，這樣每個觸發器的Q端輸出會傳入他們所驅動的組合電路，scan chain中的下一級出發器D端會捕獲這個組合電路的輸出，然后capture失效，捕獲到的每一級組合電路輸出再被移出scan chain，從而在scan chain輸出端得到一組結果向量，這組結果向量與工具預先計算好的預期（當然是與輸入scan chain的pattern不同的）相比較，從而可以依據比較結果來判斷芯片中是否有制造錯誤。  這里注意兩點： * 工具會依據芯片結夠生成多種scan patter和輸出預期。scan pattern越多，則可以達到的覆蓋率就越高。實際中當然是要求盡可能高的scan 覆蓋率。 * scanchain的設計是為了偵測制造錯誤，因此它跟功能驗證是完全不同的概念。 通常來講，工具會幫我們做好一切，而且現在都已經有標準的scanable觸發器庫，我們只需要看最后的report就好。然而還是會出現一些問題，使得scan coverage達不到要求，這就需要設計者依據report來修改design，以提高scan coverage。 最常見的問題就兩種： **某個點不可控**  實際設計中，可能會出現某一級組合邏輯的輸入端C并不是來自觸發器Q端，這樣都會造成組合邏輯的輸出端不可控，這樣就需要手工插入控制點（用觸發器和MUX組成的C’點），以提高scan覆蓋率。 **某個點不可觀測**  可能某個組合邏輯的輸出點O是沒有接入到觸發器的D端的，這樣其輸出點就無法被scan chain觀測了，那么需要手工插入觀測點O’，來提高覆蓋率。 注意： * 所有手工加入的觀測點和控制點對于原本設計功能而言都是無用的，所以必須用MUX來保證其只在scan模式下有效。 * 加入的觀測點可能因為沒有實際邏輯作用而在綜合時被優化掉，需要在約束上加don't touch說明。