DFT，全稱Design for Testability，是一種在硬件設計階段考慮測試的方法，它的目標是在設計時就使得設備或系統能更容易地進行測試。以下是DFT設計的一些基本原則和方法： 測試點插入（Test Point Insertion）：在硬件設計中，插入額外的測試點，例如觀察點和控制點，可以幫助更容易地訪問和控制硬件的內部狀態。這種方法可以提高硬件的可觀察性和可控制性，從而提高測試的效率和有效性。 掃描設計（Scan Chain Design ）：掃描設計是一種常用的DFT方法，其中所有的觸發器（flip-flops）都被連接成一個或多個長的移位寄存器，稱為掃描鏈（scan chain）。通過掃描鏈，我們可以直接設置和讀取硬件的內部狀態，從而極大地提高了硬件的可測試性。 內置自測試（Built-In Self-Test，BIST）：在BIST方法中，硬件被設計為能夠執行自我測試。這種方法可以在硬件的運行過程中檢測出潛在的故障，并且可以大大減少外部測試設備的需求。 測試壓縮技術(Test Compression Techniques)：測試壓縮技術是一種降低測試數據量和測試時間的方法。例如，Xilinx公司的3D IC設計中使用了測試壓縮技術，以降低測試成本。 故障模型（Fault Models）：DFT設計也需要考慮故障模型。一個故障模型是一個假設，它描述了硬件可能出現的故障類型。故障模型的選擇可以影響測試的覆蓋率和效率。 測試策略和計劃（Test Strategies and Plans）：一個好的DFT設計也需要一個全面的測試策略和計劃。這個策略應該詳細描述如何，何時，以及在哪里進行測試，包括在制造過程中的測試和在硬件生命周期中的測試。 **掃描鏈（Scan Chain）的設計** ??`在硬件設計中，將觸發器 (flip-flops) 替換為可掃描的觸發器并以鏈的形式連接在一起就形成了“掃描鏈”。`在測試模式下，這個掃描鏈就像是一個移位寄存器，可以通過改變掃描使能信號 (Scan Enable, SE) 的狀態，來在正常操作模式和測試模式之間切換。在測試模式下，可以通過掃描輸入端口 (Scan Input) 向掃描鏈中輸入數據，然后通過掃描輸出端口 (Scan Output) 從掃描鏈中讀出數據。 ??掃描鏈，所有的觸發器必須連接成一條鏈，單鏈或多鏈。 如果您在一端推送一些數據，而在另一端獲得相同的數據，那么它在制造過程中沒有錯誤。