MBIST概述 * BIST是一種結構性DFT技術，它將器件的測試結構置于該器件內部。BIST結構可以測試多種類型的電路，包括隨機邏輯器件和規整的電路結構如數據通道、存儲器等。BIST電路視其應用對象不同其實現存在顯著差異，但任何類型的BIST都有共同的用途。BIST結構可以針對目標電路自動生成各種測試向量，并對輸出響應進行比較。目標電路的類型也呈現多樣化特征，它可以是整個芯片設計，也可以是設計模塊或設計模塊中的某個結構。此外，測試向量生成以及輸出比較電路也可能存在差異。 * 下面我們主要探討MBIST。大型、復雜電路通常包含多處難以測試的邏輯部分，即使就可測試性最好的大型設計而言，也同樣需要耗費大量測試生成時間、占用大量的ATE存儲器和ATE測試時間，所有這些都是非常昂貴，但對于采用ATPG方法進行測試而言又是必需的。另外，由于存儲器缺陷類型不同于一般邏輯的缺陷類型，存儲器在較大規模設計之中層次較深，ATPG通常不能提供完備的存儲器測試解決方案，而MBIST技術則可以解決這些問題。BIST能夠在不犧牲檢測質量的前提下提供一種存儲器測試解決方案，在很多情況下，BIST結構可以徹底消除或最大限度減少對外部測試向量生成（以及ATE機存儲器容量）和測試應用時間的需要。設計人員可以在某設計內部執行MBIST電路，并由于MBIST電路鄰近被測試的存儲器而輕易實現全速測試，設計人員也可以從該設計的較高層次運行MBIST流程。 * 　　MBIST電路以某項設計中的RAM和ROM模型為目標。前面已經提到，由于存儲器缺陷類型不同于一般邏輯的缺陷類型，所以檢測RAM和ROM不同于檢測隨機邏輯，MBIST針對檢測RAM和ROM共有的缺陷類型采用了有效的電路和算法。MBIST電路還可以基于各種算法生成多種測試向量，每種測試向量都著重測試一種特定的電路類型或錯誤類型。比較電路具有多種獨特的實現方式，其中包括比較器和標簽分析器。存儲器電路模型一般由三個基本模塊組成，分別是地址譯碼器、讀/寫控制邏輯以及存儲單元陣列（圖1）。  ## * MBIST實現與EDA工具 MBIST工具允許設計人員將更多時間花在設計工作中，而不是在有關測試的問題上憂心忡忡。工具已經內建了開發存儲器測試和管理BIST電路所必需的知識，其生成的故障診斷電路允許設計人員對故障數據進行識別和分析。它可以產生相應的testbench，方便對MBIST外圍電路邏輯開展驗證，還可產生相應的自動化腳本文件以有助于邏輯綜合的自動化運行。此外對任何EDA工具來說，要想有效工作就必須能夠適應設計者現有的設計流程，遵循各種行業標準。 MBISTArchitect是Mentor公司提供的MBIST自動化EDA工具。它可以針對一個或多個嵌入式存儲器開發嵌入式測試電路，自動實現存儲器單元或陣列的RTL級內建自測試電路。它支持多種測試算法，可對一個或多個內嵌存儲器自動創建BIST邏輯，并完成BIST邏輯與存儲器的連接，另外還能在多個存儲器之間共享BIST控制器，實現并行測試，從而縮短測試時間并節約芯片面積。MBIST結構中還可以包括故障的自動診斷功能，方便了故障定位和開發針對性的測試向量。